Die Messung der Partikelgr??e und -form sowie des Zetapotenzials ist in der Elektronikbranche besonders bei der Herstellung von Rohmaterialien für integrierte Schaltungen wichtig. Diese sind in den meisten elektronischen Ger?ten wie Computern, Mobiltelefonen und Digitalger?ten zu finden. Das Auftreten eines einzigen übergro?en Partikels kann einen Wafer besch?digen oder einen Defekt in einem LCD verursachen.

Sowohl in Forschung und Entwicklung als auch bei Herstellung und Qualit?tskontrolle von Elektronikbauteilen unterstützen Sie die einfach zu bedienenden Ger?te gemeinsam mit dem Branchen- und Anwendungs-Know-How von Malvern bei der Charakterisierung von Materialien, darunter:

  • CMP-Slurries zum Polieren von Silikon und anderen Wafern für die Herstellung von Solarzellen
  • L?tpartikel und Siebdruckfarben für Leiterplatinen
  • Silber, leitender Kohlenstoff und Pasten für Leiterplatinen und verschiedene Displays (EL, LCD, LED)
  • Nanopartikel für Farbstoffe in Farb-LCDs

Mastersizer

Zetasizer

Morphologi

Epsilon 1 für die Punktanalyse

Epsilon 4

Mastersizer Zetasizer Morphologi Epsilon 1 für die Punktanalyse Epsilon 4

Die am weitesten verbreiteten Partikelgrößenmessgeräte der Welt

Die weltweit am weitesten verbreiteten Systeme zur Messung der Größe und Ladung von Nanopartikeln, Kolloiden und Proteinen.

Automatisierte Bildgebung für die erweiterte Partikelcharakterisierung

Mit dem Schwerpunkt auf Details größere Zusammenhänge erfassen

Schnelle und genaue Vor-Ort-Elementaranalyse

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Technologie
Laserbeugung
Dynamische Lichtstreuung
Elektrophoretische Lichtstreuung
Statische Lichtstreuung
Bildanalyse
X-ray Fluorescence (XRF)
Energy Dispersive X-ray Fluorescence (EDXRF)
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