In der Materialforschung stehen Wissenschaftler vor vielen analytischen Fragen im Zusammenhang mit der Kristallzusammensetzung von Materialproben. Die R?ntgendiffraktometrie (XRD) ist das einzige Laborverfahren, mit dem strukturelle Informationen, z.?B. über die chemische Zusammensetzung, die Kristallstruktur, die Kristallitgr??e, Spannungen, Vorzugsorientierung und Schichtdicke gewonnen werden k?nnen. Materialforscher nutzen daher die XRD zur Analyse unterschiedlichster Materialien von Pulvern und Feststoffen bis hin zu Dünnschichten und Nanomaterialien.

Wissenschaft und Industrie

Viele Forscher sowohl in industriellen als auch in wissenschaftlichen Laboren vertrauen auf die R?ntgendiffraktometrie als Werkzeug zur Entwicklung neuer Materialien oder zur Effizienzsteigerung bei der Produktion. Innovationen in der R?ntgendiffraktometrie sind eng mit der Erforschung neuer Materialien verknüpft, wie z.?B. im Bereich der Halbleitertechnologien oder bei der Suche nach neuen Pharmazeutika. Die industrielle Forschung ist auf die stetig wachsende Geschwindigkeit und Effizienz von Produktionsprozessen ausgerichtet. Vollst?ndig automatisierte R?ntgendiffraktometrieverfahren im Bergbau und bei der Produktion von Baustoffen führen zu kosteneffizienteren L?sungen für die Produktionskontrolle.

Antworten auf analytische Fragen

Die R?ntgendiffraktometrie erfüllt viele analytische Anforderungen von Materialforschern. In Pulvern k?nnen chemische Phasen sowohl qualitativ als auch quantitativ ermittelt werden. Die hochaufl?sende R?ntgendiffraktometrie erm?glicht die Ermittlung von Schichtparametern wie Zusammensetzung, Dicke, Rauheit und Dichte in Halbleiter-Dünnschichten. Per Kleinwinkel-R?ntgenstreuung und Paarverteilungsfunktion (PDF) k?nnen genauere Aussagen über die strukturellen Eigenschaften von Nanomaterialien getroffen werden. Spannungen und Vorzugsorientierung k?nnen in einer Vielzahl von Feststoffen und Konstruktionsteilen ermittelt werden.

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